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La description
Measurement head: Violet semiconductor laserModel | VK-X1100 | |
Type | measurement head | |
Total magnification | Up to 28,800 x*1 | |
Field of view (minimum range) | 11 to 7,398 µm | |
Frame rate (laser measurement speed) | 4 to 125 Hz, 7,900 Hz*2 | |
Measurement principle | Optical system | Pinhole confocal optical system, Focus variation |
Light-receiving element | 16-bit sensing: photomultiplier, High-definition colour CMOS | |
Scanning method (during general measurement and image stitching) | Automatic upper/lower limit setting, rapid laser light intensity setting (AAGII) , automatic detection and rescanning in case of poor reflection (double scan) | |
Height measurement | Display resolution | 0.5 nm |
Linear scale | ||
Dynamic range | 16 bits | |
Repeatability ? | Laser confocal | 20 x, 40 nm, 50 x, 12 nm |
Focus variation | 5 x, 500 nm, 10 x, 100 nm, 20 x, 50 nm, 50 x, 20 nm | |
Height data acquisition range | 0.7 million steps | |
Accuracy | 0.2 + L /100 µm or better*3 | |
Width measurement | Display resolution | 1 nm |
Repeatability 3? | Laser confocal | 20 x, 100 nm, 50 x, 40 nm |
Focus variation | 5 x, 400 nm, 10 x, 400 nm, 20 x, 120 nm, 50 x, 50 nm | |
Accuracy | ±2 %*3 | |
XY stage configuration | Manual: Moving range | 70 mm x 70 mm |
Motorised: Moving range | 100 mm x 100 mm | |
Observation | Image options | High-definition colour CMOS image 16-bit laser colour confocal image Confocal optical system with ND filter C-laser DIC image (differential interference image) |
Illumination | Ring illumination, coaxial illumination | |
Laser light source for measurements | Wavelength | Violet semiconductor laser, 404 nm |
Maximum output power | 1 mW | |
Laser class | Class 2 laser product (IEC60825-1) | |
Power supply | Power voltage | 100 to 240 VAC, 50/60 Hz |
Current consumption | 150 VA | |
Weight | Approx. 13.0 kg | |
*1 23 inch full-screen display. *2 At maximum speed when using a combination of measurement mode/measurement quality/lens magnification. When the line scan is within a measurement pitch of 0.1 µm. *3 When measuring a standard sample (standard scale) with a 20 x objective lens (or higher). |
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